微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
公司地址:
北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
投訴建議:
010-82491398
報(bào)告問題解答:
010-8646-0567
檢測(cè)領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫等。
發(fā)布時(shí)間:2024-01-08 17
關(guān)鍵詞:多功能磁粉探傷儀
瀏覽次數(shù):
來源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
儀器名稱 |
多功能磁粉探傷儀 |
型號(hào) |
CDX-V |
主要技術(shù)指標(biāo) |
電源:220V±10%,50HZ 5A;輸出:0~380V,0~12A 退磁時(shí)間:4秒;探頭溫升:≤60℃; 工作節(jié)拍:建議在長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)工作時(shí):充磁時(shí)間≤3秒 間隙時(shí)間≥5秒;儀器重量:約7.0Kg |
主要附件 |
電源、接線、探頭 |
主要功能 |
可以檢出鐵磁性材料中裂紋、發(fā)紋、白點(diǎn)、 折疊、夾雜物等缺陷 |